光譜儀是在特定波長范圍來測量來源光線的設備。先就結構說明再描述其原理。他的構成包括五個部分：
1. 入口狹縫：通常由一個長狹縫組成的入口。
2. 一個校準元件，用來將所有通過入口狹縫的光保持平行。這個元件可能是一個透鏡或是一個色散元件(dispersing element)的少數或整體部分，例如在凹面光柵光譜儀中便是使用這類裝置。
3. 一個色散元件，用來改變通過系統的光強度。通過系統的光路徑由其波長決定，如光柵、稜鏡。
4. 一個聚焦元件，可將the entry field-stop成像於適當的焦平面(focal plane)上。
5. 一個出口狹縫。
廣泛應用
布魯克光譜儀廣泛應用于冶金、鑄造、機械、金屬加工、汽車制造、有色、航空航天、兵器、化工等領域的生產過程控制，中心實驗室成品檢驗等，可用于Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb等多種金屬及其合金樣品分析。可對片狀、塊狀以及棒狀的固體樣品中的非金屬元素（C、P、S、B等）以及金屬元素進行準確定量分析。
